產品的理念是針對電池高容量化及負荷增大帶來的大電流化的市場動向，通過過充電檢測電壓的高精度化來延長電池的使用時間，并通過過電流切斷電流的高精度化來確保安裝的常用電流，同時在更安全的范圍切斷異常電流。 在使用鋰離子二次電池的手機終端上，為進一步提高安全性做貢獻。" />

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電池相關IC

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■ 產品名稱： 通過內置存儲器實現過充電檢測電壓及過電流切斷電流的高精度化 鋰離子/聚合物二次電池用存儲器內置保護IC MJ3401

通過內置存儲器實現過充電檢測電壓及過電流切斷電流的高精度化 鋰離子/聚合物二次電池用存儲器內置保護IC MJ3401
    • 通過內置存儲器，可在封裝后補償過充電檢測電壓、過電流切斷電流
      可補償組裝應力的影響，從而實現過充電檢測電壓的高精度化。將FET的導通電阻特性反饋到過電流檢測電壓，從而實現過電流切斷電流的高精度化。
    • 保護IC和充電放電開關用FET的2合1封裝化
      收納于一個封裝之中，可謀求基板設計的簡單化。
    • 節省實裝空間
      雖然是疊層型2合1封裝，但實現了低高度化（0.5mm max.）。
      為基板超薄化作出貢獻。
  • 主要規格
    最大額定電壓 10V max. （保護IC部）、24V max. （FET部）
    最大容許損耗 1W
    漏極電流 12A max. (DC)
    工作電壓范圍 1.5～5.5V
    過充電檢測電壓 4.1～4.6V ±10mV （可設定范圍和公差）
    過放電檢測電壓 2.0～3.0V ±35mV （可設定范圍和公差）
    放電過電流切斷電流 4.0～8.0A ±20%以下 （可設定范圍和公差）
    充電過電流切斷電流 4.0～8.0A ±20%以下 （可設定范圍和公差）
    源與源之間導通電阻 11.0mΩ typ.
    封裝 PLP-4-2141
    外形尺寸 2.1(D)×4.1(W)×0.5(H) mm

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