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一節(jié)用

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■ 產(chǎn)品名稱： MM3638系列

MM3638系列是采用高耐壓CMOS工藝， 可對鋰離子/聚合物可 充電電池起保護用的IC。可對1節(jié)鋰離子/聚合物電池的過充電、 過放電、放電過電流、充電過電流及短路狀態(tài)進行檢測。 利用外置感應電阻取代傳統(tǒng)的FET內(nèi)阻方式， 來進行過電流檢 測，即使在高溫或低溫環(huán)境下也能進行高精度的過電流檢測。 以前的Li-ion電池封裝中，作為過電流檢測電阻，一直使用偏差 較大的FET SW的導通電阻。MM3638系列產(chǎn)品中， 使用外置 貼片電阻，提高了過電流檢測的高精度化和溫度依存性。

更多詳情請點擊：http://www.mitsumi.co.jp/chinese/catalog/pdf/c_battery_mm3638.pdf

  • （1）各種檢測/解除電壓的選擇范圍與精度 ● 過充電檢測電壓 4.0V ～ 4.5V、5mV進階可選 精度±20mV 精度±25mV （Topr=－5 ～＋60℃） ● 過充電解除電壓 3.9V ～ 4.5V、50mV進階可選 精度±30mV ● 過放電檢測電壓 2.0V ～ 3.0V、50mV進階可選 精度±35mV ● 過放電解除電壓 2.0V ～ 3.5V、50mV進階可選 精度±100mV ● 放電過電流檢測電壓 ＋50mV ～＋300mV、5mV進階可選 精度±10mV ● 充電過電流檢測電壓 －50mV ～－300mV、5mV進階可選 精度±20mV ● 短路檢測電壓 0.9V 固定 精度±100mV 

    （2）由各保護模式的復位條件 ● 過充電復位條件 “VDD <過充電復位電壓”且“負載連接(V->0.4V)” ● 過放電復位條件 “VDD > 過放電復位電壓”且“充電器連接（V-<0.2V）” ● 放電過電流復位條件 “負載開放(V-<0.2V)” ● 充電過電流復位條件 “負載連接（V->0.4V）”

     （3）各種檢測延時時間的選擇范圍 ● 過充電檢測延時時間 0.25s、1.0s、1.2s、4.5s可選 ● 過放電檢測延時時間 20ms、24ms、96ms、125ms、144ms可選 ● 放電過電流檢測延時時間 8ms、12ms、16ms、20ms、48ms可選 ● 充電過電流檢測延時時間 8ms、12ms、16ms、20ms、48ms可選 ● 短路檢測延時時間 250μs 固定 

    （4）0V電池充電功能 可選擇［禁止］／［允許］ 

    （5）低消耗電流 ● 正常工作模式時 Typ. 3.0μA、Max. 6.0μA ● 待機模式時 Max. 0.1μA （過放電復位條件為“充電器連接復位"的情況) Max. 0.5μA （過放電復位條件為“電壓復位"的情況) （6）絕對最大額定值 ● VDD端子 VSS－0.3V ～ ＋12V ● COUT端子、V－端子 VDD－28V ～ VDD＋0.3V ● DOUT端子 VSS－0.3V ～ VDD＋0.3V ● CS端子 VSS－0.3V ～ VDD＋0.3V ● 保存溫度 －55 ～ ＋125℃ ● 工作環(huán)境溫度 －40 ～ ＋85℃

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